Николаевич Т., Метрология | Толстов Андрей Николаевич, Парфеньева И. Е.
2019 г., 522 стр., 978-5-00091-474-8
Наличие в интернет-магазинах
Описание книги
Изложены основные положения теоретической, прикладной и законодательной метрологии. Рассмотрены теоретические основы и прикладные вопросы метрологии на современном этапе, исторические аспекты и положения метрологии нанотехнологий и квантовых процессов как особого вида измерений физических величин. Представлены основные положения Федерального закона от 26 июня 2008 г. № 102-ФЗ «Об обеспечении единства измерений». Соответствует требованиям Федеральных государственных образовательных стандартов высшего образования последнего поколения. Для студентов высших технических учебных заведений, обучающихся по техническим специальностям, в качестве учебника по общепрофессиональным и специальным дисциплинам, а также для лиц, интересующихся вопросами измерений и метрологического обеспечения.
Купить эту книгу можно в интернет-магазинах
- 3530 руб.
- 3530 руб.
- 3530 руб.
- 5202 руб.
Страница товара выбранного интернет-магазина откроется в новом табе
Поделиться ссылкой на книгу
Содержание книги
Авторский коллектив
Список принятых сокращений
Предисловие
Введение
Глава 1. ТЕОРЕТИЧЕСКАЯ МЕТРОЛОГИЯ
1.1. Метрология макрообъектов и процессов
1.1.1. Величина
1.1.2. Системы единиц величин
1.1.3. Точность результатов измерений
1.1.4. Систематические погрешности
1.1.5. Случайные погрешности
Вопросы для самопроверки
1.1.6. Случайные величины (СВ)
1.1.7. Интегральная и дифференциальная функции
распределения случайных величин
Вопросы для самопроверки
1.1.8. Характеристики случайных величин
Вопросы для самопроверки
1.1.9. Нормальный закон распределения
Вопросы для самопроверки
1.1.10. Равномерный закон распределения
Вопросы для самопроверки
1.1.11. Законы распределения случайных
погрешностей, применяемые чаще всего
Вопросы для самопроверки
1.1.12. Суммирование составляющих погрешности
измерений
Вопросы для самопроверки
1.1.13. Точечная и интервальная оценки истинного
значения измеряемой величины
Вопросы для самопроверки
Глава 2. ПРИКЛАДНАЯ МЕТРОЛОГИЯ
2.1. К понятию термина "измерение"
2.2. Измерения и их классификация
Вопросы для самопроверки
2.2.1. Однократные измерения и обработка их
результатов
Вопросы для самопроверки
2.2.2. Многократные измерения и обработка их
результатов
2.2.3. Обработка результатов неравноточных
(неравнорассеянных) измерений
Вопросы для самопроверки
2.2.4. Обработка результатов косвенных
измерений
Вопросы для самопроверки
2.2.5. Обработка результатов совокупных и
совместных измерений
2.2.6. Метод наименьших квадратов
Вопросы для самопроверки
2.2.7. Правила округления результатов
наблюдений и вычислений и их погрешности
Вопросы для самопроверки
2.2.8. Статистическая обработка результатов
измерений на компьютере
2.3. Средства измерений
2.3.1. Термины и определения
2.3.2. Классификация средств измерений по
определяющим признакам
Вопросы для самопроверки
2.3.3. Обобщенная структурная схема средств
измерений
Вопросы для самопроверки
2.3.4. Требования, предъявляемые к средствам
измерений
2.3.5. Метрологические характеристики средств
измерений
2.3.6. Способы нормирования метрологических
характеристик
2.3.7. Формы представления нормированных
метрологических характеристик
2.3.8. Классы точности средств измерений
Вопросы для самопроверки
2.4. Эталоны.
2.4.1. Эталон - средство воспроизведения,
хранения и передачи единицы физической
величины
2.4.2. Совершенствование эталонной базы
Российской Федерации
2.4.3. Государственные эталоны основных единиц
величин
2.4.4. Передача размеров от эталонов к рабочим
средствам измерений
2.5. Рабочие средства измерений
2.5.1. Измерение весовых величин
2.5.2. Измерения геометрических величин
2.5.3. Средства измерений механических величин
2.5.4. Средства измерений тепловых величин
Вопросы для самопроверки
2.6. Выбор средств измерений
2.7. Условия измерения и контроля
Вопросы для самопроверки
2.8. Испытания
2.8.1. Планирование испытаний
2.8.2. Испытательное оборудование
2.8.3. Нормативно-правовая основа аттестации
испытательного оборудования
2.8.4. Аттестация испытательного оборудования
2.8.5. Порядок подготовки и проведения
аттестации испытательного оборудования
2.9. Метрологическая экспертиза технической
документации
2.9.1. Метрологическая экспертиза - составной
элемент метрологического обеспечения
производства
2.9.2. Задачи, решаемые при проведении
метрологической экспертизы
2.9.3. Документация, подлежащая
метрологической экспертизе
2.9.4. Организация, порядок проведения
метрологической экспертизы и ответственность
должностных лиц
2.9.5. Особенности экспертизы отдельных видов
технической документации
2.9.6. Способы решения различных задач
метрологической экспертизы конструкторской
документации (чертежа детали)
2.9.7. Пример проведения экспертизы
конструкторской документации
2.9.8. Пример проведения метрологической
экспертизы технологической документации
2.9.9. Оценка экономической эффективности
метрологической экспертизы
2.10. Метрологическое обеспечение изделий на
всем их жизненном цикле
2.10.1. Цели и задачи метрологического
обеспечения изделий
2.10.2. Научные, технические и организационные
основы метрологического обеспечения изделий
2.11. Система менеджмента измерений
2.11.1. Термины и определения
2.11.2. Общие требования
2.11.3. Ответственность руководства
2.11.4. Управление ресурсами
2.11.5. Метрологическое подтверждение и
реализация измерительных процессов
2.11.6. Анализ и улучшение системы менеджмента
измерений
Глава 3. ОСНОВЫ МЕТРОЛОГИИ НАНОТЕХНОЛОГИЙ
3.1. История становления нанотехнологий
3.2. Основные свойства наноструктур
3.3. Основные принципы нанотехнологий
3.4. Методы и средства измерений в
нанотехнологиях
3.5. Обеспечение единства измерений в
нанотехнологиях
Глава 4. ОСНОВЫ МЕТРОЛОГИИ КВАНТОВЫХ
ПРОЦЕССОВ
4.1. Этапы создания метрологии квантовых
процессов
4.2. Измерение квантовых (субмикроскопических)
объектов, их специфика
4.3. Средства измерений квантовых процессов
Вопросы для самопроверки
Глава 5. ЗАКОНОДАТЕЛЬНАЯ МЕТРОЛОГИЯ
5.1. Цели и задачи законодательной метрологии
5.2. Правовые основы обеспечения единства
измерений в Российской Федерации
5.3. Федеральный закон "Об обеспечении единства
измерений"
5.4. Федеральный закон "О техническом
регулировании"
5.5. Федеральный закон "О стандартизации в
Российской Федерации"
5.6. Государственная система обеспечения
единства измерений
5.6.1. Цели, задачи и состав государственной
системы обеспечения единства измерений
5.6.2. Научная подсистема (подсистема основных
норм и правил по обеспечению единства
измерений) государственной системы обеспечения
единства измерений
5.6.3. Правовая подсистема государственной
системы обеспечения единства измерений
5.6.4. Организационная подсистема
государственной системы обеспечения единства
измерений
5.6.5. Нормативно-методическая подсистема
государственной системы обеспечения единства
измерений
5.6.6. Техническая подсистема государственной
системы обеспечения единства измерений
5.7. Формы государственного регулирования в
области обеспечения единства измерений
Вопросы для самопроверки
Приложение 1. Нормативно-методические
документы, представленные в учебнике
Приложение 2. Перечень государственных
первичных эталонов единиц величин (по состоянию
на 01.03.2015)
Приложение 3. Характеристики государственных
эталонов России
Приложение 4. Форма протокола аттестации
испытательного оборудования
Приложение 5. Форма аттестата испытательного
оборудования, прошедшего аттестацию
Приложение 6. Форма бирки, помещаемой на
испытательном оборудовании, прошедшем
аттестацию
Приложение 7. Стандарты в сфере нанотехнологий
(выборка)
Библиографический список
Список принятых сокращений
Предисловие
Введение
Глава 1. ТЕОРЕТИЧЕСКАЯ МЕТРОЛОГИЯ
1.1. Метрология макрообъектов и процессов
1.1.1. Величина
1.1.2. Системы единиц величин
1.1.3. Точность результатов измерений
1.1.4. Систематические погрешности
1.1.5. Случайные погрешности
Вопросы для самопроверки
1.1.6. Случайные величины (СВ)
1.1.7. Интегральная и дифференциальная функции
распределения случайных величин
Вопросы для самопроверки
1.1.8. Характеристики случайных величин
Вопросы для самопроверки
1.1.9. Нормальный закон распределения
Вопросы для самопроверки
1.1.10. Равномерный закон распределения
Вопросы для самопроверки
1.1.11. Законы распределения случайных
погрешностей, применяемые чаще всего
Вопросы для самопроверки
1.1.12. Суммирование составляющих погрешности
измерений
Вопросы для самопроверки
1.1.13. Точечная и интервальная оценки истинного
значения измеряемой величины
Вопросы для самопроверки
Глава 2. ПРИКЛАДНАЯ МЕТРОЛОГИЯ
2.1. К понятию термина "измерение"
2.2. Измерения и их классификация
Вопросы для самопроверки
2.2.1. Однократные измерения и обработка их
результатов
Вопросы для самопроверки
2.2.2. Многократные измерения и обработка их
результатов
2.2.3. Обработка результатов неравноточных
(неравнорассеянных) измерений
Вопросы для самопроверки
2.2.4. Обработка результатов косвенных
измерений
Вопросы для самопроверки
2.2.5. Обработка результатов совокупных и
совместных измерений
2.2.6. Метод наименьших квадратов
Вопросы для самопроверки
2.2.7. Правила округления результатов
наблюдений и вычислений и их погрешности
Вопросы для самопроверки
2.2.8. Статистическая обработка результатов
измерений на компьютере
2.3. Средства измерений
2.3.1. Термины и определения
2.3.2. Классификация средств измерений по
определяющим признакам
Вопросы для самопроверки
2.3.3. Обобщенная структурная схема средств
измерений
Вопросы для самопроверки
2.3.4. Требования, предъявляемые к средствам
измерений
2.3.5. Метрологические характеристики средств
измерений
2.3.6. Способы нормирования метрологических
характеристик
2.3.7. Формы представления нормированных
метрологических характеристик
2.3.8. Классы точности средств измерений
Вопросы для самопроверки
2.4. Эталоны.
2.4.1. Эталон - средство воспроизведения,
хранения и передачи единицы физической
величины
2.4.2. Совершенствование эталонной базы
Российской Федерации
2.4.3. Государственные эталоны основных единиц
величин
2.4.4. Передача размеров от эталонов к рабочим
средствам измерений
2.5. Рабочие средства измерений
2.5.1. Измерение весовых величин
2.5.2. Измерения геометрических величин
2.5.3. Средства измерений механических величин
2.5.4. Средства измерений тепловых величин
Вопросы для самопроверки
2.6. Выбор средств измерений
2.7. Условия измерения и контроля
Вопросы для самопроверки
2.8. Испытания
2.8.1. Планирование испытаний
2.8.2. Испытательное оборудование
2.8.3. Нормативно-правовая основа аттестации
испытательного оборудования
2.8.4. Аттестация испытательного оборудования
2.8.5. Порядок подготовки и проведения
аттестации испытательного оборудования
2.9. Метрологическая экспертиза технической
документации
2.9.1. Метрологическая экспертиза - составной
элемент метрологического обеспечения
производства
2.9.2. Задачи, решаемые при проведении
метрологической экспертизы
2.9.3. Документация, подлежащая
метрологической экспертизе
2.9.4. Организация, порядок проведения
метрологической экспертизы и ответственность
должностных лиц
2.9.5. Особенности экспертизы отдельных видов
технической документации
2.9.6. Способы решения различных задач
метрологической экспертизы конструкторской
документации (чертежа детали)
2.9.7. Пример проведения экспертизы
конструкторской документации
2.9.8. Пример проведения метрологической
экспертизы технологической документации
2.9.9. Оценка экономической эффективности
метрологической экспертизы
2.10. Метрологическое обеспечение изделий на
всем их жизненном цикле
2.10.1. Цели и задачи метрологического
обеспечения изделий
2.10.2. Научные, технические и организационные
основы метрологического обеспечения изделий
2.11. Система менеджмента измерений
2.11.1. Термины и определения
2.11.2. Общие требования
2.11.3. Ответственность руководства
2.11.4. Управление ресурсами
2.11.5. Метрологическое подтверждение и
реализация измерительных процессов
2.11.6. Анализ и улучшение системы менеджмента
измерений
Глава 3. ОСНОВЫ МЕТРОЛОГИИ НАНОТЕХНОЛОГИЙ
3.1. История становления нанотехнологий
3.2. Основные свойства наноструктур
3.3. Основные принципы нанотехнологий
3.4. Методы и средства измерений в
нанотехнологиях
3.5. Обеспечение единства измерений в
нанотехнологиях
Глава 4. ОСНОВЫ МЕТРОЛОГИИ КВАНТОВЫХ
ПРОЦЕССОВ
4.1. Этапы создания метрологии квантовых
процессов
4.2. Измерение квантовых (субмикроскопических)
объектов, их специфика
4.3. Средства измерений квантовых процессов
Вопросы для самопроверки
Глава 5. ЗАКОНОДАТЕЛЬНАЯ МЕТРОЛОГИЯ
5.1. Цели и задачи законодательной метрологии
5.2. Правовые основы обеспечения единства
измерений в Российской Федерации
5.3. Федеральный закон "Об обеспечении единства
измерений"
5.4. Федеральный закон "О техническом
регулировании"
5.5. Федеральный закон "О стандартизации в
Российской Федерации"
5.6. Государственная система обеспечения
единства измерений
5.6.1. Цели, задачи и состав государственной
системы обеспечения единства измерений
5.6.2. Научная подсистема (подсистема основных
норм и правил по обеспечению единства
измерений) государственной системы обеспечения
единства измерений
5.6.3. Правовая подсистема государственной
системы обеспечения единства измерений
5.6.4. Организационная подсистема
государственной системы обеспечения единства
измерений
5.6.5. Нормативно-методическая подсистема
государственной системы обеспечения единства
измерений
5.6.6. Техническая подсистема государственной
системы обеспечения единства измерений
5.7. Формы государственного регулирования в
области обеспечения единства измерений
Вопросы для самопроверки
Приложение 1. Нормативно-методические
документы, представленные в учебнике
Приложение 2. Перечень государственных
первичных эталонов единиц величин (по состоянию
на 01.03.2015)
Приложение 3. Характеристики государственных
эталонов России
Приложение 4. Форма протокола аттестации
испытательного оборудования
Приложение 5. Форма аттестата испытательного
оборудования, прошедшего аттестацию
Приложение 6. Форма бирки, помещаемой на
испытательном оборудовании, прошедшем
аттестацию
Приложение 7. Стандарты в сфере нанотехнологий
(выборка)
Библиографический список
Об авторе
Последние поступления в рубрике "Тематика определяется"
 |
Алиса Селезнева. Сто лет тому вперед Булычев Б.
Третья планета от солнца готова услышать голоса новых героев! Повесть Кира Булычёва «Сто лет тому вперёд» озвучили актёры Марк Эйдельштейн (он же сыграл Колю Герасимова в экранизации 2024 года) и Дарья Савичева (сериал «Беспринципные»). Шестиклассник Коля вдруг обнаруживает в обычной московской квартире машину времени.... |
 |
Странная история доктора Джекила и мистера Хайда Стивенсон Л.У.
Читает Алена Долецкая! Одно из первых произведений в жанре научной фантастики: мрачная готическая повесть о раздвоении личности и тёмной изнанке человеческой души. Генри Джекил, уважаемый в обществе врач и ученый, поставил неудачный эксперимент и материализовал тёмную часть своей личности.... |
 |
Этика Спиноза С.
Бенедикт Спиноза – основополагающая, веховая фигура в истории мировой философии. Учение Спинозы продолжает начатые Декартом революционные движения мысли в европейской философии, отрицая ценности былых веков, средневековую религиозную догматику и непререкаемость авторитетов.... |
Если Вы задавались вопросами "где найти книгу в интернете?", "где купить книгу?" и "в каком книжном интернет-магазине нужная книга стоит дешевле?", то наш сайт именно для Вас. На сайте книжной поисковой системы Книгопоиск Вы можете узнать наличие книги Николаевич Т., Метрология | Толстов Андрей Николаевич, Парфеньева И. Е. в интернет-магазинах. Также Вы можете перейти на страницу понравившегося интернет-магазина и купить книгу на сайте магазина. Учтите, что стоимость товара и его наличие в нашей поисковой системе и на сайте интернет-магазина книг может отличаться, в виду задержки обновления информации.
